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X射線實(shí)時(shí)成像檢測系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用
X射線實(shí)時(shí)成像檢測系統(tǒng)結(jié)合x射線成像技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)、電子技術(shù)、機(jī)械自動化技術(shù)為一體的高科技產(chǎn)品。實(shí)時(shí)動態(tài)效果比傳統(tǒng)的測試方法與方法:系統(tǒng)自動化程度高,操作簡單、快速檢測和提高射線探傷的效率,降低測試成本,測試數(shù)據(jù)的優(yōu)點(diǎn)是易于存儲和查詢。
多年來,該系統(tǒng)已成功應(yīng)用于航空航天、軍事武器、石化、高壓容器、造船、鍋爐管、耐火材料。近幾年逐步增加了對質(zhì)量的重視現(xiàn)各種汽車配件、陶瓷工業(yè)、高壓電纜、高壓開關(guān)、電子設(shè)備、考古學(xué)、食物、異物、橡膠輪胎、木材無損檢測、種子、輻照等行業(yè)相繼選用X射線進(jìn)行無損檢測及應(yīng)用。
當(dāng)X射線照射到試樣上時(shí),如果試樣內(nèi)部存在納米尺寸的密度不均勻區(qū),則會在入射束周圍的小角度區(qū)域內(nèi)出現(xiàn)散射X射線,這種現(xiàn)象稱為X射線小角散射或小角X射線散射。根據(jù)電磁波散射的反比定律,相對于波長來說,散射體的有效尺寸越大則散射角越小。
因此,廣角X射線衍射關(guān)系著原子尺度范圍內(nèi)的物質(zhì)結(jié)構(gòu),而小角X射線散射則相應(yīng)于尺寸在零點(diǎn)幾納米至近百納米區(qū)域內(nèi)電子密度的起伏。納米尺度的微粒子和孔洞均可產(chǎn)生小角散射現(xiàn)象。這樣,由散射圖形的分析,可以解析散射體粒子體系或多孔體系的結(jié)構(gòu)。這種方式對樣品的適用范圍寬,不論是干態(tài)還是濕態(tài)都適用,無論是開孔還是閉孔都能檢測到。但須注意小角散射在趨向大角一側(cè)的強(qiáng)度分布往往都很弱,并且起伏很大。