選擇測(cè)試條件是光譜分析過(guò)程中復(fù)雜關(guān)鍵的部分。 適當(dāng)?shù)臏y(cè)試條件意味著能夠測(cè)量元素的PPM水平。為了達(dá)到佳的分析測(cè)試條件，須遵循兩個(gè)基本原則：X射線源須在被測(cè)元素的吸收峰上方有一個(gè)明顯的峰。  K線或L線的選擇取決于儀器的測(cè)量范圍。 通常，更常用K線測(cè)量。X射線源的峰越接近待測(cè)元素的吸收峰，測(cè)試的強(qiáng)度和靈敏度（數(shù)值/秒/ PPM）越高。理想情況下，輻射源應(yīng)與要測(cè)量的元素的吸收峰一致，但這很難實(shí)現(xiàn)。另一個(gè)基本原理是在要測(cè)量的元素區(qū)域中小化X射線的背景噪聲。 

　　但是，這兩個(gè)原則相互矛盾。 通常，X射線探傷在高背景噪音時(shí)會(huì)達(dá)到高靈敏度，而在低背景噪音時(shí)則靈敏度差。 此外，當(dāng)靈敏度高時(shí)，也可以達(dá)到佳的理論檢測(cè)極限；而當(dāng)背景噪聲低時(shí)，凈計(jì)數(shù)率提取，矩陣校正和長(zhǎng)期穩(wěn)定性分析則好。 因此，佳分析結(jié)果是在考慮儀器硬件的情況下，找到這兩個(gè)原理之間的佳平衡。  

　　X射線管發(fā)射的spectrum致輻射的光譜范圍從0到n千伏，其中n是射線管的工作電壓。  X射線管還會(huì)發(fā)射目標(biāo)的特征光譜線，因此如何選擇目標(biāo)是要看它是否能夠大程度地激發(fā)待測(cè)元素。 由于X射線的強(qiáng)度通常與目標(biāo)元素的原子序數(shù)成正比，因此鎢靶通常具有高的強(qiáng)度。 目標(biāo)可以是任何高熔點(diǎn)金屬，目標(biāo)的選擇通常包括Sc，Ti，Cr，F(xiàn)e，Co，Ni，Co，Y，Zr，Mo，Rh，Pd，Ag，W和Pt。 

　　具有多個(gè)目標(biāo)的X射線管已應(yīng)用于光譜儀。 操作員可以為要測(cè)量的不同元素選擇不同的目標(biāo)。 選擇原則是目標(biāo)的特征線能量高于待測(cè)元素的吸收極限，并且至少是檢測(cè)器分辨率的半角寬度的2-3倍。如果沒(méi)有靶滿足上述要求，則可以選擇高原子序數(shù)以獲得大的X射線通量。

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