企業(yè)名稱:丹東市無損檢測設(shè)備有限公司
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X射線微焦點(diǎn)用途:檢查芯片,器件內(nèi)部的結(jié)構(gòu),位移動。半導(dǎo)體BGA,線路板等內(nèi)部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷微焦點(diǎn)X射線可以穿過塑封料并對包封內(nèi)部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評價由流動誘導(dǎo)應(yīng)力引起的引線變形 在電路測試中,引線斷裂的結(jié)果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現(xiàn)為短路。X射線分析也評估氣泡的產(chǎn)生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測到。
X射線與CT的區(qū)別相關(guān): 簡單來說XRAY 是通過聚光束進(jìn)行投影,輸出灰白的圖象,CT則通過把聚光束與樣品旋轉(zhuǎn),通過計算機(jī)斷層掃描各個投影的狀況,模擬成三維圖象,所以微焦點(diǎn)xray,移動射線管也具備CT三維成像計算機(jī)斷層掃描功能。標(biāo)準(zhǔn)檢測分辨率<500納米 ; 幾何放大倍數(shù):2000倍放大倍數(shù): 10000倍 ;輻射小: 每小時低于1 μSv 。
電壓: 160 KV, 開放式射線管設(shè)計防碰撞設(shè)計;BGA和SMT(QFP)自動分析軟件,空隙計算軟件,通用缺陷自動識別軟件和視頻記錄。這些特點(diǎn)非常適合進(jìn)行各種二維檢測和三維微焦點(diǎn)計算機(jī)斷層掃描(μCT)應(yīng)用。
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